J-RAS離子遷移試驗裝置

絕緣抵抗測定器

型號：ECM-100

離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。（ION MIGRATION TESTING） 適用規格：JPCA-ET01-2001

J-RAS離子遷移試驗裝置 

特點(diǎn)：

①簡(jiǎn)單便利

由于采用了高側計測，削減了對樣品的焊接工時(shí)。

通過(guò)簡(jiǎn)單操作的軟件，可以進(jìn)行直觀(guān)的操作。

在記錄和報告過(guò)程中配備了方便的報告功能。

試驗中測試儀可以單獨工作，可以切斷電腦的電源。

②高機能

通過(guò)對每個(gè)頻道單獨配備的外加測量電路，實(shí)現16ms的測量間隔。

泄漏接觸現象的檢測能力高，可靠性試驗的“質(zhì)量"提高。

一臺電腦可增設多達400個(gè)通道

每個(gè)通道有不同的測試電壓。

③高信賴(lài)性

通過(guò)自我診斷功能防止異常測量。

易于拆卸的單元結構，易于維護。

用途

印刷電路板、焊錫、樹(shù)脂、導電性粘合劑、絕緣材料等的電化學(xué)遷移(離子遷移)評價(jià)。