J-RAS離子遷移試驗裝置ECM-500系列

絕緣抵抗測定器

型號：

ECM-500/40-n

ECM-500/100-n

離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。（ION MIGRATION TESTING） 適用規格：JPCA-ET01-2001

可在1v ~ 500v的寬外加電壓和CH個(gè)別電壓輸出下進(jìn)行各種樣品的測試

通過(guò)配備信道單獨計測電路進(jìn)行50msec/CH的高速掃描處理

用響應速度低于100nsec的瞬時(shí)泄漏電流檢測電路，捕捉到泄漏觸摸現象

多達100ch的殼體小型輕量，不選擇場(chǎng)所設置，移動(dòng)也容易

利用倉門(mén)打開(kāi)的接點(diǎn)進(jìn)行緊急停止或暫時(shí)停止的安全功能

采用不同CH的彩色電纜，減少焊接作業(yè)的負擔，防止出錯。

簡(jiǎn)單易用的軟件

J-RAS離子遷移試驗裝置

用途

印刷電路板、焊錫、樹(shù)脂、絕緣材料等的遷移評價(jià)。

多達500v的外加電壓可滿(mǎn)足汽車(chē)電子相關(guān)廠(chǎng)商的測試要求。