J-RAS高壓絕緣可靠性測試機

HVUα高電圧絶縁信頼性試験裝置

離子遷移試驗裝置

型號：HVUα-1000/HVUα-2000/HVUα-3000

電化學(xué)遷移現象是指印刷布線(xiàn)板等原本良好的絕緣物，在施加電偏置電壓的狀態(tài)下發(fā)生的電化學(xué)現象。電子化學(xué)遷移發(fā)生、成長(cháng)，電極間短路的現象。

印刷線(xiàn)路板等發(fā)生電子化學(xué)遷移的話(huà)會(huì )造成零件的損傷~產(chǎn)品的損傷，有時(shí)會(huì )產(chǎn)生較大的損害和損失。因此，在新材料和新產(chǎn)品的研究階段的可靠性評價(jià)試驗中也被作為重要的評價(jià)項目。

特點(diǎn)

100n秒以下的高速事件計測功能也能檢測出部分放電(可與電阻值數據同時(shí)計測)

通過(guò)CH個(gè)別電源裝載和CH個(gè)別反饋，對各樣品施加穩定的電壓

通過(guò)CH個(gè)別電源裝載&CH個(gè)別控制，可對所有CH設定不同的外加電壓

因為沒(méi)有機械式繼電器的掃描，所以在連續測試中故障少

短路檢測電路的CH個(gè)別裝載瞬間的樣品短路也追隨

通過(guò)基于三氧化二電纜的主動(dòng)保護實(shí)現低噪聲測量(測量側)

軟件可以顯示圖表和收錄數據

以5個(gè)通道為單位，可根據需求配置系統

J-RAS高壓絕緣可靠性測試機 

用途

?電壓元件的絕緣可靠性評價(jià),連續功率模塊的耐壓,耐遷移印刷電路板的性能評價(jià),其他?電壓絕緣零件的可靠性評價(jià)。